，或者長時間高溫存儲（不帶電）后，評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性。高溫存儲溫度/高溫工作溫度（帶電）125±5℃，時間1000±12小時。(參照GJB 360B.108)。

低溫試驗：長時間低溫存儲（不帶電）后

，評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性，以及檢測封裝中足以對晶振產(chǎn)生不良影響的殘存濕氣，即通常的露點測試(參照GJB 548B.1013.1)。低溫存儲溫度-55℃±5℃，存儲時間1000±12小時（對通常的露點測試溫度-65℃），實驗結(jié)束后24±4小時進行電性能測試。

>>>>對晶振的影響

• 晶體諧振器頻率變化：高溫頻率降低3.5ppm左右(5max); 低溫頻率降低2.5ppm左右(5max), 諧振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%.

• 晶體振蕩器頻率降低：3.5ppm左右(5max).

高溫工作壽命和老化試驗

>>>>高溫工作壽命試驗

確定晶振在高溫條件下工作一段時間后

，高溫對KOAN晶振的電氣和機械性能的影響，用于評定晶振質(zhì)量穩(wěn)定性(參照GJB 360B.108). 工作溫度125±5℃, 時間1000±2小時(帶電)。實驗結(jié)束后24±2小時內(nèi)測量，每兩小時測一次并計算壽命。

• 晶體諧振器頻率降低：高溫3.5ppm左右(5max)

• 晶體振蕩器頻率降低：3.8ppm左右(5max)

>>>>老化試驗

通過計算晶振工作壽命大于15年。老化試驗溫度：105±5℃和85±5℃

，每個溫度時間：250±12小時，實驗結(jié)束后24±2小時內(nèi)進行電性能測試。

• 晶體諧振器: 1年老化-1ppm左右(2max)

• 晶體振蕩器: 1年老化-1.5ppm左右(3max)