無源晶振測試數(shù)據(jù)中
,F(xiàn)R和FL的值怎么理解?
S&A250B晶振測試設(shè)備中包含F(xiàn)L和FR參數(shù)的測試,《一篇文章讀懂KOAN晶振測試報告》了解更多。以下為KOAN無源晶振KX70, 8MHz頻率的實測數(shù)據(jù):
- 晶振的串聯(lián)諧振頻率FR比其標稱頻率低152.16ppm。這是晶振在無負載電容的情況下的頻率偏差。這種偏差可能是由于晶振的制造誤差、材料特性或溫度變化引起的。
- 在特定負載電容條件下
,晶振的頻率相對于標稱頻率的偏差為1.05ppm
。在負載電容的影響下,晶振的頻率變化非常小
,頻率穩(wěn)定性較好
。
- 盡管晶振的FR存在較大的偏差,但在負載條件下的FL穩(wěn)定性良好。該晶振在實際工作條件下的性能較為穩(wěn)定。盡量確保負載電容與晶振的設(shè)計負載電容匹配,以維持最佳性能。
KOAN晶振提供無源晶振和有源晶振,覆蓋多種規(guī)格尺寸,現(xiàn)貨充足,以滿足客戶需求。我們的產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)處于行業(yè)領(lǐng)先水平。我們奉行精益求精、追求卓越、制造非凡、顧客滿意的質(zhì)量方針。公司致力于精細化質(zhì)量管理,以滿足客戶對高端產(chǎn)品的需求。
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