晶振的絕緣電阻
絕緣電阻是指物體在特定電壓下能夠抵抗電流通過的能力
發(fā)表于 2024-09-11 02:25 |
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絕緣電阻可靠性測(cè)試
- 目的:晶振在熱帶和亞熱帶高溫高濕條件下的耐潮濕能力,以及晶振的絕緣性能在經(jīng)受高溫、潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí),其絕緣電阻是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
- 試驗(yàn)方式: 將晶振放置在溫濕度85℃/85%RH,試驗(yàn)時(shí)間1000±12小時(shí),實(shí)驗(yàn)結(jié)束后24±2小時(shí)內(nèi)進(jìn)行電性能測(cè)試。(參照GJB 360B 106/302)
- 測(cè)試對(duì)晶振的影響:晶體諧振器頻率降低4ppm左右(5max),諧振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%;晶體振蕩器頻率降低3.5ppm左右(5max)。